 El microscopio infrarrojo AIM-8800 permite el análisis de rastros de componentes, contaminantes, laminados de múltiples capas, películas delgadas, capas, productos farmacéuticos y fibras. Muestras tan pequeñas como de 10 mm pueden ser analizadas. Cada sistema proporciona una pantalla de vídeo y la capacidad de grabar, los usuarios pueden archivar imágenes de muestras para una demostración fácil o publicación.
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Caractéristicas Completo Control con la vista de AIM - Auto Apertura - Auto X-Y Stage - Auto Foco - Auto Centrado -
Alta Sensibilidad, Libre de Mantenimiento MCT Detector Alta sensibilidad- de curso! Una relación señal/ruido* de 2,600 a 1 (Type I) ó 2,000 a 1 (Type II) ó más alto es garantizado por un scan 60, 50 x 50 µm medida de transmisión de aperatura. Cada MCT detector es equipado con una resistencia al choke, cristal libre de agujeros Dewar. El cristal Dewar es superior al metal Dewars usado comunmente en los MCT detectors porque los Dewars metálicos requieren una sustitucion de cada 1 a 2 años. Especificaciones | | AIM-8800 | | Opticos: | 15 x Cassegrain objetivo
15 x Cassegrain espejos del condensador | MCT detector:
con systema monitoreado con nitrogeno liquido: | Variedad de Longitud de Onda:
Type 1 - 5000 - 720cm-1 Alta sensibilidad (Standard in the US)
Type 2 - 5000 - 650cm-1 | | Señal a ruido* | Modo de transmisión, tamaño de abertura 50µm, 8cm-1 60 scans
2600: 1 ó alta (Type 1), 2000: 1 ó más alto (Type 2)
* Los valores de señal a ruido garantizados cuando esta relacionado al Shimadzu FTIR 8000 Series Fourier Transforman el Espectrómetro Infrarrojo | | Software-controlador de apertura: | Conducción direccional XY . XY el movimiento puede ser dejado a 1 µm incrementos para trazar un mapa de la superficie de la muestra. La ubicación angular o rotatoria de la abertura puede ser tan fina a 1° e incrementando. La entrada numérica está también disponible para X,Y y Ø posicionado.
Configuración de la minina apertura: 3µm | | Motor-conductor X-Y etapa de ejemplo: | Rango de posición: X axis: 70mm; Y axis: 30 mm
Resolución: 1µm pitch
Grosor de la muestra:
Modo de reflexión: <= 40mm
Modo de transmisión: <= 10mm | | Control de operación disponible vía teclado de unidad principal: | Seleción del modo de medición/ XY operación de etapa (velocidad variable en 4 pasos)/foco manual/control de iluminación
| | Control via PC (mouse fácil/control via trackball.) | Seleción del modo de medición/ XY operación de etapa/ auto centrado/ foco manual/ auto foco/ control de iluminación/ configuración de apertura/ prevista de apertura/ posición de medida y grabación de ajuste de abertura(10 posiciones de ejemplo, 2 posiciones de fondo) | | Condiciones de laboratorio ambientales: | Temperatura ambiente: 15°C ~ 30°C
Humedad ambiental: 70% o menos | | Peso: | 36kg | | Dimensiones externas: | (W) 410mm x (D) 540mm x (H) 520mm | | Requerimientos eléctricos: | AC100/120/220/230/240V 125 VA | | Opciones: | Ge prism ATR objective (Spectra Tech)
Diamond ATR objective (Spectra Tech)
ZnSe ATR objective (Spectro Tech)
Grazing angle objective (Spectra Tech)
Visual objective lens (4x, 10x)
Mapping Software (Including ATR Mapping)
MMS-77 Micromanipulator for sample preparation and positioning. | Software Fácil operación con la vista del AIM
Todas las operaciones para controlar el microscopio infrarrojo son realizadas en la pantalla de ordenador personal. (Ver el texto de acompañamiento abajo para descripciones de las funciones.)
Los artículos en la Negrilla incluyen descripciones detalladas. | 1. Pantalla de observación visible
2. Auto etapa X-Y (movimiento eje X)
3. Ajuste en modo manual
4. Auto Focus
5. Modo visual - switch de modo IR
6. Modo de transmisión - switch de modo de reflexión
7. Link a Hyper-IR
8. Sostenedor de la Muestra | 9. Auto etapa X-Y (movimiento eje Y)
10. La posición medida es movida a la pantalla derecha
11. Retorno a la posición grabada (pantalla izquierda)
12. Auto Centrado
13. Muestra maximizada
14. Apertura configurada en pantalla
15. Posición Grabada
16. Configuración de apertura
|  | Link al Software Hyper-IR |  | Sostenedor de la Muestra
Montando la muestra a la etapa de X-Y automática, haciendo clic en la posición de la apertura mostrada automáticamente mueve la etapa de X-Y al centro de la apertura de etapa de muestra. |  | Auto Centrado
Presione dos veces el ratón en cualquier punto en la pantalla de observación visible, y aquella posición al instante se mueve al centro del área de inspección. |  | Posición Grabada
Hasta 10 posiciones de muestra y 2 posiciones de fondo pueden ser colocadas en la memoria, y al mismo tiempo, el tamaño de abertura y el ángulo también son registrados en la memoria. | Automated FT-IR Microscope
Download AIM 8800 Brochure (.pdf file) Para más info visite: Shimadzu Scientific Instruments
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